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  • 便携式探头
    测量曲面样品或样品无法移动时,需要用到特殊的探头,这些探头包裹一层柔性橡胶,可以直接放到样品上面,用光纤将其与主机相连。基于不同的应用,有三个型号可选。
  • MAI显微镜适配器
    MAI显微镜适配器,可与任何一台正置显微联用,将MProble系列薄膜测厚仪加到显微镜上,用于微小样品的厚度测量,包含一个200万像素CCD,可对测量区域进行成像。
  • MProbe MSP显微薄膜测厚仪
    MProbeMSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层,软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy,Tauc-Lorentz,Cody-Lorentz,EMA等。
  • Map薄膜厚度测绘仪
    Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。
  • MProbe NIR薄膜测厚仪
    采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS,CdTe)可以快速的测量。
  • MProbe RT薄膜测厚仪
    大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

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