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  • DektakXT台阶仪
    探针式轮廓仪新标杆-升级到Z优性能
  • 光学轮廓仪ContourGT
    批量生产及科研必不可少的非接触式三维光学轮廓仪
  • NPFLEX 三维表面测量系统
    针对大样品设计的非接触测试分析系统 测量灵活:大面型,关键角度的精确测定 结果可靠:高精度表面三维信息 展现细节:纳米垂直分辨率 高速高效:快速获得重复性极佳的数据
  • 光学轮廓仪
    光学轮廓仪技术参数1、纵向扫描范围:0.1nm~1mm(标配)2、垂直扫描速度:25um/s3、样品台尺寸:200mm
  • XTL探针式轮廓仪
    DektakXTL探针式轮廓仪系统-严格质量保证与质量控制下,获得300毫米Z优性能探测Bruker公司的新型DektakXTL™探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350毫米的样品,将Dektak®优异的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔震装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行,是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。

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