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表面测量仪器与系统MarSurf XR 20
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所属分类:粗糙度轮廓仪
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当表面结构影响到组件或产品功能、加工或外观时,经行认真精确测量是必须的。数十年来,Mahr一直是全球领域先锋,在粗糙度测量方面取得了多次的技术革 新和解决方案。测针、驱动器及测量设置的相互作用,对表面测量质量有非常大的影响,而在这几个方面,恰恰是Mahr的强项所在

表面测量仪器与系统MarSurf XR 20产品概述:

表面测量仪器与系统MarSurf XR 20

MarSurf XR 20 可以提供给您所需要的一切,该设别囊括了实验室和车间所有常用的,基于国际标准的测量参数和轮廓。优化的结构和建议的操作设计,使得该高效率设备更易使用。

 

可自动选取标准截止波长和扫描长度功能(专利)

根据RaRz的参数规格,支持不同校准方法(静态和动态)

可设定维护和校准周期

针对客户实际应用,具备非常大的测量范围

可选择不同的配置方式

可设置不同用户层次,通过密码保护,避免操作者错误操作或改动设定,并可确保未有权限人员不能使用

允许多个测量结果甚至多个零件的测量结果在一个文档中处理和打印

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