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手持式矿石分析仪
型    号:
所属分类:手持式X射线荧光光谱仪
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S1 TITAN手持式荧光光谱仪是Bruker公司Z新款的手持式X荧光光谱仪(合金分析仪),国际L先、功能强大、重量Z轻,是质量控制(QA/QC)、材料分析(PMI)、混料识别、废料分拣(Recycling)、牌号识别(Grade ID)等领域中Z理想、Z可靠的检测设备。

手持式矿石分析仪产品概述:

手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)

Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,

Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。

 

手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿

例如:铁矿、铜矿、锌矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、钴矿、镍矿、铅矿、钼矿、镁矿、铝矿、

银矿、金矿、铂矿、硫矿、砷矿、硒矿等

 

主要应用

主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿;

还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。

 

 

主要特性:

简体中文界面

Windows 5.0操作系统

开机后不需校准就可直接测量

采用布鲁克专利技术的XFlash®SDD检测器

分析元素zui小从Mg开始,达40多种。

分析范围:ppm级至50%以上(与矿样种类有关)

实时分析数据和图谱显示

XRF软件具有定性、定量分析功能,控制光管的电压和电流,使测量范围更广

测量完全无损,不受样品形状限制

仪器自动校准,自动存储测量数据,无需人工干预

主机一体化设计,高强度密封,防水、防尘,抗冲击

可选择一键式定时测量

内置Bruker专业操作软件,计算和显示速度快

仪器适应高温,低温,潮湿,雨天、沙尘等恶劣环境

在开机状态下长时间不测量时,仪器会自动进入待机状态,以节省电源和保护仪器

X射线管耐用性强,采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命

选配GPS定位系统,可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图

万能FP模式,适于各种矿石样品,大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。

免费软件升级

采矿和勘探-现地质化学分析:
勘探:
S1 TITAN轻质化、易携带的设计,极大地方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域,测量钻孔岩心,判定矿床的深度和分布情况
矿石分析:
一旦发现矿产地点,S1 TITAN可快速分析矿床
矿石质量控制:
矿产定位且开始开采后,S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测,提供矿石的详细品级信息,为即将流入加工厂的矿石进行前期筛选,提高原料矿石的质量
加工和浓度分析:
矿石加工过程中,S1 TITAN可测定样品的浓度
复原和整治:
当采矿作业进入尾声,S1 TITAN可用于未了分析,并协助完成土地复原

地质化学痕量测定:
痕量元素
矿石探途元素
土壤或沉积层中的污染物
修复检查
催化转化器
地质化学常量测定:
主要和微量元素
含金属矿石
工业矿物
精矿
铝土矿

校准:
元素范围:zui多可达45中元素,包括镁、铝、硅、磷和硫
通过标准样品,进行多重特定基质校准
配备Bruker的连续自动增益校准(CAGC),需现场增益检查
样品制备:
可直接测量岩石表面,但是这类样品质地不均匀,需要大量的数据采集才可实现有效的量化分析。反之,采用质地均匀的样品(如磨细的粉末)能够获得更精确的分析结果。
zui佳的解决方案是,把材料研磨成足够细的粉末,压制或轻巧成可复制、致密的样品。现场可使用多种辅助研磨工具,直接从岩石表面手机粉末,或者吧样品“捶打”成所要求的粉末,再将粉末压制成颗粒状,即可使用S1TITAN进行分析。

环境条件:防护等级IP54:S1 TITAN在设计上课承受所有环境的县长操作,包括潮湿及多尘的环境条件
密封式设计可防水防尘
采用橡胶模造,经久耐用
可防止污染物及风沙侵入
样本立架可用于测量小型及复杂样本
操作温度:-10℃至+50℃
样本温度(间歇性使用):150℃用于Ultralene窗口,500℃用于Kapton窗口

马上:info@boyuesh.com

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