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  • XTL探针式轮廓仪
    DektakXTL探针式轮廓仪系统-严格质量保证与质量控制下,获得300毫米Z优性能探测Bruker公司的新型DektakXTL™系统可容纳多达350毫米x350毫米的样品,将Dektak®优异的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔震装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行,是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。

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